کد خبر: ۳۰۰۰۸۹
تاریخ انتشار: ۰۳ مرداد ۱۳۹۹ - ۲۳:۴۵


آمریکا یک پژوهشگر چینی را که در کنسولگری چین در سانفرانسیسکو بود، به اتهام تقلب در دریافت روادید بازداشت کرد.

به گزارش خبرگزاری رویترز، یک مقام وزارت دادگستری آمریکا روز جمعه گفت پژوهشگر چینی که در کنسولگری این کشور در سانفرانسیسکو بود، به اتهام تقلب در ویزا دستگیر شده و احتمالا امروز در دادگاه حاضر خواهد شد.

«ژوان تانگ» پژوهشگر چینی که در دانشگاه دیویس ایالت کالیفرنیا کار می‌کرده، از سوی آمریکا متهم شده که برای دریافت روادید سابقه خدمت خود در ارتش چین را پنهان کرده است.

مقام وزارت دادگستری آمریکا گفت که این شهروند چینی پنجشنبه شب دستگیر شده و به دلیل اینکه به عنوان مقام دیپلماتیک معرفی نشده بود، دارای مصونیت دیپلماتیک نبوده است.

پیشتر «وانگ ون بین» سخنگوی وزارت خارجه چین در واکنش به ایراد اتهام علیه این پژوهشگر گفته بود: چین از ایالات متحده می‌خواهد از هر بهانه‌ای برای محدود کردن، آزار و اذیت یا سرکوب دانشمندان چینی در این کشور خودداری کند.

همزمان با افزایش تنش میان آمریکا و چین، واشنگتن روز چهارشنبه به پکن ۷۲ ساعت فرصت داد تا کنسولگری خود در هیوستون را ببندد؛ اقدامی که اعتراض و تهدید به مقابله به مثل را از سوی چین به دنبال داشت.

وزارت خارجه چین این اقدام آمریکا را «تحریک سیاسی» دانست و تاکید کرد: این اقدام یک جانبه، به طور جدی قوانین بین المللی، هنجارهای اساسی حاکم بر روابط بین الملل و توافقنامه دوجانبه کنسولی بین چین و آمریکا را نقض می‌کند.

روابط واشنگتن و پکن در زمینه‌های مختلفی از جمله تجارت، اتهام‌زنی به چین در ارتباط با شیوع کرونا، مسایل مربوط به دریای جنوبی چین، وضعیت هنگ‌کنگ و مسلمانان اویغور در استان سین‌کیانگ چین دچار تنش شده است.
ارسال نظر
نام:
ایمیل:
* نظر:
اخبار روز
ببینید و بشنوید
آخرین عناوین